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德國徠卡LEICA顯微鏡
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全新的徠卡清潔度解決方案：快速識別污染源這樣有什么意義呢？您可在數(shù)秒鐘內(nèi)掌握相關信息，找出影響產(chǎn)品性能和壽命的顆粒物的來源。您可更快地消除這些顆粒物，以符合日趨嚴格的VDA19和ISO標準。在定位顆粒物來源上節(jié)省時間也能促成更具經(jīng)濟效益的清潔度分析。全新徠卡清潔度解決方案帶給您的優(yōu)勢：利用快捷的化學分析更快地找出污染源在內(nèi)部完成步驟，省時省錢盡量減少甚至不用SEM/EDS進行深入分析-無需額外的濾片樣品制備或轉(zhuǎn)移到其它設備-無需重新定位感興趣區(qū)域或調(diào)節(jié)系統(tǒng)更快更輕松地執(zhí)行清潔...
